一分钟，快速了解“多通道RCS测试系统”

2025年6月24日产品中心 27780

还在为传统紧缩场测试效率低、频段覆盖有限而烦恼？最新研发的多通道RCS测试系统来了！0.3GHz～40GHz全频段覆盖，支持双极化、单/多通道测试，一键实现RCS测量、成像、材料反射率分析，效率提升5-10倍！

🔹 核心优势：
18G以下全频段一次测量：0.3GHz～18GHz宽频覆盖，支持扫频、点频测试；

全自动化测试：转台控制、数据采集全自动化，操作更便捷；

超高精度：背景对消后频域电平低至-70dBsm，最小可测RCS达-50dBsm（±1dB测量不确定度）；

高度集成：馈源及仪表系统全集成连接，频段/极化切换实现100%程控，无需手动调整/拆装。

1、系统特点

多通道RCS测试系统，主要用于紧缩场RCS测试暗室中，配合多台矢量网络分析仪（或专用测量雷达）及专用测控软件、双极化宽带馈源及其阵列布局等，可实现0.3GHz～18GHz全频段目标散射特性的一次测量，比常规紧缩场仪表系统测试效率提高5～10倍。

2、技术指标

6m静区以下紧缩场，矢量背景对消后，频域背景电平：

最小可测RCS（精度±1dB）：

3、软件功能

设备控制

仪表系统控制	远程、本地设置测试系统工作参数，启动系统完成测试，采集并存储测试数据。
馈源支架控制	通过网络接口或串口对馈源支架上的馈源安装平台进行远程控制，使馈源按照测试需求进行配合运动；控制馈源支架进行旋转或平移运动。
转台（低散射金属支架转顶）控制	通过网络接口或串口对转台（低散射金属支架转顶）进行远程控制，可以设置旋转方向、旋转速度、旋转角度、步进角度等参数，控制转台（低散射金属支架转顶）按照测试需求进行配合运动。
其他设备	射频仪器、控制仪器等一切需要远程控制的设备。

数据采集及自动化测试

数据处理

目标散射特性数据处理	RCS处理、一维成像、二维成像、材料反射率测试处理。
数据展示及输出	绘制一维（采样曲线、时域一维像）、二维像，并支持打印输出。
其他数据处理功能	对数据（曲线）进行平滑、截取、平移、求平均值、对消、拼接合成、概率统计分析等处理功能；具备二维像抠像、取像及反演，二维像叠像、替换及反演功能；支持批量平均、定标体RCS计算、word报告生成等。

其他

扩展功能接口

提供标准数据接口，更多的测试、数据处理、分析功能可以通过动态链接库的方式，作为功能插件嵌入到软件平台中。按照软件给出的标准数据接口，使用者可以根据自己的需求编写各种新的处理脚本并嵌入原软件平台。